爱德万测试AI应用解决方案 加速提升生产良率

元件良率在半导体生产过程中是关键的效能指标，需要工程人员持续除错和微调。爱德万测试独创ACS EASY解决方案运用AI技术，自动监测测试环境并进行AI推论（inference），拦检并分析良率下降的原因，如此便能即时解决生产问题、缩短侦错的时间，并大大减少分析测试资料的工作量。

ACS EASY善于处理大量资料，借由比较新一批次与先前批次的测试结果，快速辨别出不正常类别（bin）的原因。这套解决方案提供图形化的使用者介面（GUI），便于线上传输测试结果，省去制作个别报告的麻烦。此外，ACS EASY操作直觉简便，操作者不需要熟悉AI、机器学习、资料分析或统计学也能轻松上手。

一家采用爱德万测试产品的业界大厂，在使用过ACS EASY自动载入测试资料并分析要因的功能后指出，这项任务原本每天得耗费100个工程小时，自从采用新系统后，一举省下约8成在厘清良率下降原因的时间，并成功侦测出先前遭忽略的多个良率问题和背后原因。

ACS EASY运用自我学习技术分类所有良率相关问题，以便未来监测和分析，能进一步扩大系统的存储知识库，有利后续推论应用创造更大价值。

爱德万测试客户服务本部执行副总张建华表示，业界一直很期待在引进AI和先进资料分析后，能帮助IC测试向前跃进一大步。现在这个时刻到来了，ACS EASY是一套低成本、安装容易又操作简便的系统，测试工程师不用成为资料科学家也能快速掌握有用的资讯。