优利德取得一种覆层测厚仪传感器专利，实现全量程范围内任意被测厚度的两点快速校准功能

金融界2024年7月9日消息，天眼查知识产权信息显示，优利德科技（中国）股份有限公司取得一项名为“一种覆层测厚仪传感器“，授权公告号CN109855524B，申请日期为2019年4月。

专利摘要显示，本发明涉及厚度测量仪传感器技术领域，具体公开了一种覆层测厚仪传感器，包括磁芯（2）、骨架（3）、线圈（4）、内壳体（5）；所述磁芯（2）在测量端面开设孔，所述磁芯（2）安装于骨架（3）的中心位置，所述线圈（4）绕制在骨架（3）的线槽内，所述内壳体（5）套装在骨架（3）外。本发明在磁芯测量端面开设孔，在测量磁性金属基体上的覆层厚度，特别是薄的覆层厚度时，有效地增大了传感器流入基体的磁阻，减小了磁通，降低了通过磁感应端的信号强度，使该段测量线性趋势线与其它段测量线性趋势线基本一致，即近似直线线性，其有效地修正了传感器的测量线性曲线，从而实现全量程范围内任意被测厚度的两点快速校准功能。

本文源自：金融界

作者：情报员