《科技》爱德万测试拔头筹，推全新SSD测试解决方案
半导体测试设备厂爱德万测试（Advantest）领先业界，运用已通过严谨测试的MPT3000平台，发表针对PCIe Gen 4固态硬碟（SSD）的开发、除错与量产全新整合式测试解决方案，将有助于SSD制造商加速新产品的上市时程。
爱德万测试表示，MPT3000平台系统已获PCIe Gen 3、SATA与SAS SSD制造大厂采用，可能涵盖PCIe Gen 4装置的所有测试需求，包括进行工程测试、可靠性验证测试（RDT）、生产测试，毋须耗时等待第三方PCIe Gen 4 SSD应用上市。
爱德万测试指出，借由提供客户从设计到制造的完整测试流程，新解决方案能大幅简化过渡到下一世代装置的进程，且使用与爱德万测试PCIe Gen 3解决方案相同的测试架构与软体，为SSD制造业者开拓风险最低、速度最快的产品上市途径。
爱德万测试系统级测试副总Colin Ritchie表示，为因应各式各样的SSD协定与规格，公司推出模组化MPT3000平台，且在功能方面更上层楼，能协助客户验证和测试最新一代PCIe记忆体。
Colin Ritchie指出，MPT3000 PCIe Gen 4产品已经上市，并已开始出货给客户。本系统具备高度弹性，再加上tester-per-DUT架构和硬体加速特点，可成为所有工程、量产和内建自我测试电路（BIST）应用最理想的单一系统解决方案。